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Influence of Hole Current Crowding on Snapback Breakdown in Multi-Finger MOSFETs
Lee, Siyoun
,
Kim, Seong-Yeon
,
Oh, Haesoon
,
Sim, Jaesung
,
Choi, Woo Young
IEEE ACCESS
, 2023, Vol.11, 60758-60762
원문보기
주제(키워드) 도움말
AVALANCHE BREAKDOWN; MODEL
발행기관
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
발행년도
2023
총서유형
Journal
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