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Suppression of Gate-Induced-Drain-Leakage Utilizing Local Polarization in Ferroelectric-Gate Field-Effect Transistors for DRAM Applications
Kwak, Been
,
Lee, Kitae
,
Kim, Sihyun
,
Kwon, Daewoong
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
, 2024, Vol.45 No.5, 813-816
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주제(키워드) 도움말
MEMORY
발행기관
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
발행년도
2024
총서유형
Journal
본문언어
영어
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