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Scaling Effects on Memory Characteristics of Ferroelectric Field-Effect Transistors
Lee, Kitae
,
Yim, Jiyong
,
Shin, Wonjun
,
Kim, Sihyun
,
Kwon, Daewoong
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
, 2024, Vol.45 No.5, 805-808
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주제(키워드) 도움말
ENHANCED FERROELECTRICITY; FILMS
발행기관
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
발행년도
2024
총서유형
Journal
본문언어
영어
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