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Demonstration of bias scheme for ferroelectric field-effect transistor (FeFET) based AND array operation
Kim, Shinhee
,
Park, Jae Yeon
,
Lee, Dong Keun
,
Noh, Hyungju
,
Kim, Tae-Hyeon
,
Kim, Sihyun
,
Kim, Sangwan
SOLID-STATE ELECTRONICS
, 2024, Vol.216
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주제(키워드) 도움말
MEMORY DEVICES
발행기관
PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
발행년도
2024
총서유형
Journal
본문언어
영어
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