Microstructural analysis of hafnium zirconium oxide through TEM
TEM을 통한 산화 하프늄 지르코늄 박막의 미세 구조 분석
- 주제어 (키워드) 산화 하프늄 , 강유전체 , 투과전자현미경
- 발행기관 서강대학교 일반대학원
- 지도교수 김현정
- 발행년도 2025
- 학위수여년월 2025. 2
- 학위명 석사
- 학과 및 전공 일반대학원 물리학과
- 실제 URI http://www.dcollection.net/handler/sogang/000000079835
- UCI I804:11029-000000079835
- 본문언어 영어
- 저작권 서강대학교 논문은 저작권 보호를 받습니다.
목차
Chapter 1: Introduction 13
1.1 Research Background 13
1.2 Theoretical Background 14
1.2.1 Ferroelectricity of fluorite-structure material 15
1.2.2 Polymorphic nature of hafnium zirconium oxide 18
1.2.3. Domain and domain wall in orthorhombic HZO 21
1.2.4. Transmission Electron Microscopy 22
Chapter 2: Methods 25
2.1 Sample Preparation 25
2.1.1 Plan-view device preparation 25
2.1.2 Cross-section view device preparation 30
2.2 TEM Analysis 35
2.2.1 DF-TEM Imaging 35
2.2.2 In-situ TEM 35
Chapter 3: Results and Discussion 37
3.1 Structural Properties of the HZO 37
3.2. Phase distinction in polycrystalline HZO 43
3.3 DF image analysis of HZO 49
3.3.1 Diffraction intensity in Non-centrosymmetric 49
3.3.2 DF image of HZO 51
3.4 J-E characteristics of HZO capacitor on TEM grid 53
Chapter 4: Conclusion 59
References 61

