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In Situ Radiation Hardness Study of Amorphous Zn-In-Sn-O Thin-Film Transistors with Structural Plasticity and Defect Tolerance
Ho, Dongil
,
Choi, Sunwoo
,
Kang, Hyunwoo
,
Park, Byungkyu
,
Le, Minh Nhut
,
Park, Sung Kyu
,
Kim, Myung-Gil
,
Kim, Choongik
,
Facchetti, Antonio
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES
, 2023, Vol.15 No.28, 33751-33762
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주제(키워드) 도움말
INDUCED LEAKAGE CURRENT; LOW-TEMPERATURE; OXIDE SEMICONDUCTORS; DISPLACEMENT DAMAGE; PERFORMANCE; PASSIVATION; IRRADIATION; ENVIRONMENT; TRANSPORT; DEVICES
발행기관
AMER CHEMICAL SOC
발행년도
2023
총서유형
Journal
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