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Domain-specific valuation of university technologies using bibliometrics, Jonckheere-Terpstra tests, and data envelopment analysis
Kim, Juram
,
Hong, Suckwon
,
Kang, Yubin
,
Lee, Changyong
TECHNOVATION
, 2023, Vol.122
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주제(키워드) 도움말
CYCLE TIME; PATENT; DEA; INDICATORS; EFFICIENCY; SCALE
발행기관
ELSEVIER
발행년도
2023
총서유형
Journal
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