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고전압 Power IC 집적을 위한 4H-SiC CMOS 신뢰성 연구
Reliability Analysis of 4H-SiC CMOS Device for High Voltage Power IC Integration
강연주(서강대학교)
,
나재엽(서강대학교)
,
김광수(서강대학교)
전기전자학회논문지
, 2022, Vol.26 No.1, 111-118
주제(키워드) 도움말
4H-SiC
,
CMOS
,
inverter
,
temperature characteristic
,
HfO2
,
4H-SiC
,
CMOS
,
inverter
,
temperature characteristic
,
HfO2
발행기관
한국전기전자학회
발행년도
2022
총서유형
Journal
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