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Coherent X-ray Diffraction Studies of Zeolite-Y Microcrystals : 결맞은 X-선 회절을 이용한 제올라이트-Y 결정에 관한

  • 발행기관 서강대학교 대학원
  • 지도교수 김현정
  • 발행년도 2008
  • 학위수여년월 2008. 2
  • 학위명 석사
  • 학과 및 전공 물리
  • 식별자(기타) 000000107623
  • 본문언어 영어

목차

Coherent x-ray diffraction (CXD) is an emerging technique to obtain three dimensional images of internal density distribution of crystals. When the object is illuminated by coherent x-rays, the oversampled diffraction pattern can be inverted to give real spatial images of the sample. CXD is a strong analytic method for nondestructive measurement of internal structures of materials. In this thesis, we measured CXD on zeolite-Y microcrystals and those having CdS incorporated in their nanopores. After reconstruction process of inversion of CXD pattern with phase retrieval algorithm, the octahedral shape of zeolite-Y and internal phase were obtained. However, due to imperfection of the crystal quality and weak attachment of crystals onto the substrate at the present stage, some limitations for obtaining the exact internal density distribution on crystal itself and CdS in it were found.

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결맞은 X-선 회절(coherent x-ray diffraction, CXD)은 결정 내부의 전자 밀도 분포를 3차원적으로 측정할 수 있는 기술이다. 물체에 결맞은 x-선이 입사되어 회절된 빛의 패턴이 복원할 분해능보다 충분히 얻게되면, 회절 패턴은 물체의 이미지로 복원시킬 수 있다. 또한 x-ray의 높은 투과력으로 물체의 내부구조까지 비파괴적으로 측정할 수 있다는 장점이 있다. 본 논문에서는 제올라이트-Y 결정과 CdS 양자점이 포함된 제올라이트-Y 결정의 CXD패턴을 측정하여, 결정의 이미지를 복원, 결정 내부의 위상을 얻었다. 실험결과 제올라이트-Y 결정은 8면체에 가깝게 복원되었고, CdS 양자점을 포함한 제올라이트-Y 결정은 내부의 CdS 양자점들로 인한 강한 회절로 인해, (111) 브래그 점 주위에 충분한 회절 패턴을 측정하는데 실험적으로 제한이 되어 제올라이트-Y 결정의 일반적인 모양으로 복원되지 않는 요인이 됨을 확인하였다.

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