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Si/Si1-xGex/Si HBT에서 Ge profile에 따른 전기적 특성 변화에 대한 연구 : Study on the change of the electrical properties depending on the Ge profile shapes in Si/Si1-xGex/Si HBTs

  • 발행기관 서강대학교 대학원
  • 발행년도 1999
  • 학위수여년월 1999
  • 학위명 석사
  • 학과 및 전공 전자공학과
  • 식별자(기타) 000000026990
  • 본문언어 한국어
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